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昨年の10 月に導入の告知をしておりました産業用マイクロフォーカスCT について、テスト稼働を終え、6 月7 日よりサービス提供を開始したことをお知らせいたします。

JMC では、「phoenix v|tome|x m300」をフルオプションで導入しており、GE 社の新技術であるscatter|correct（散乱線補正システム）や、VDI2630 準拠の高精度計測を実現するmetrology|edition、約16 メガピクセルの dynamic 41|100 を搭載しています。
「phoenix v|tome|x m300」によって、軽金属の撮影や、複数の部品が組み合わさった製品の撮影などにおいて、画像の品質と撮影効率の向上が実現します。

また現在、 当社はGE SIT 社製の「phoenix nanotom m」２台及び「phoenix v|tome|x C450」１台を保有しておりますが、「phoenix v|tome|x m」導入により、ミリ/ マイクロ/ ナノフォーカスという3 つのクラスのＣＴ装置のサービス提供が可能になりました。

さらにこの度、450kV のミリフォーカスCT でも出力不足で撮影できないケースにも対応するため、パートナー企業による高エネルギーX 線撮影の対応も開始いたしました。
これによってJMC では産業用CT の全ての領域をカバーし、お客様のあらゆるご要望を網羅したサービス体制が整いました。

【phoenix v|tome|x m300 概要】
名 称：phoenix v|tome|x m300　
X 線管：300kV マイクロフォーカス 180kV ナノフォーカスの2 管球を搭載
検出器：Dynamic41|100 　　　　　　　　　
（4,000x4,000 ピクセル、ピクセルサイズ100μm のフラットパネルディテクタ）
備 考：scatter|correct を搭載（受託サービスとしては国内初導入） 　　　　　　　　　
VDI2630 規格に準拠した高精度メトロロジーシステムを搭載

　　

【高エネルギーX 線装置概要】
X 線源：マイクロトロン　
最大出力：6MeV
検出器：フラットパネルディテクタ(FPD)

寸法計測、非破壊検査、構造解析、三次元データ化など、お困りのことがありましたら、お気軽にお問い合わせください。

産業用CT専門サイト
https://www.jmc-ct.jp/