MENU

TOPICS

トピックス

  1. HOME
  2. トピックス
  3. [プレスリリース]新たな産業用CT(phoenix v|tome|x m)導入に伴うサービス体制強化のお知らせ

2017年10月5日

[プレスリリース]
新たな産業用CT(phoenix v|tome|x m)導入に伴うサービス体制強化のお知らせ

プレスリリース

株式会社JMCは、GEセンシング&インスペクション・テクノロジーズ株式会社(以下、 GE SIT社)製マイクロフォーカスCTの最上位機種である「phoenix v|tome|x m」を2018年第1四半期に新工場であるコンセプトセンター第5期棟(長野県飯田市)に導入することを決定しましたのでお知らせいたします。
「phoenix v|tome|x m」は、scatter|correct(散乱線補正システム)を搭載し、VDI2630準拠の高精度計測を実現するCT装置です。scatter|correctを搭載するCT装置を受託サービス業で導入した事例はなく、この度の当社の導入が国内初となります。  現在、当社はGE SIT社製の「phoenix nanotom m」2台及び「phoenix v|tome|x C450」1台を保有しておりますが、「phoenix v|tome|x m」導入によって、ミリ/マイクロ/ナノフォーカスという全てのクラスのCT装置を保有することになります。これにより、顧客のあらゆる要望に対応可能な国内最高水準の受託サービス体制が構築されるとともに、受託撮影能力の大幅な強化が実現します。
また、平成29年2月にGE SIT社と当社はCT装置及び関連サービスの販売に関する業務提携契約を締結しておりますことから、保有するCT装置の実践的使用から得られる高度なノウハウや技術をCT装置及び関連サービスの販売へ今後より一層活用してまいります。

phoenix v|tome|x m

【導入装置概要】

名 称:phoenix v|tome|x m
X 線管:300kV マイクロフォーカス 180kV ナノフォーカスの2 管球を搭載
検出器:Dynamic41|100(4,000x4,000 ピクセル、 ピクセルサイズ100μm のフラットパネルディテクタ)
備 考:scatter|correct を搭載(受託サービスとしては国内初導入)
    VDI2630 規格に準拠した高精度メトロロジーシステムを搭載

    

プレスリリース

PAGETOP